FMOS Schmidt Plate の測定 4

http://www.kusastro.kyoto-u.ac.jp/~iwamuro/FMOS/SCHMIDT/schmidt4.html


FMOS 分光器用の 特殊 Schmidt Plate について

形状
315mm x 251mm x 厚さ約80mm(傾斜角約15°), 6次の軸外し非球面 平凹2枚/平凸1枚

製作
理化学研究所にて ELID 加工
清原光学にて手作業で仕上げ研磨

測定日
2004年5月11日 10:00 - 15:00

使用機器
国立天文台開発実験センター三鷹光器 NH-3SN (非接触3次元測定器) を使用

測定内容
前回と同様に測定面が研磨面であるため、2次元 scan はしないで 1mm step で 140mm を一次元 scan した。3つのサンプル全てで y=-70,0,+70mm で左右2つの scan を行い、x=-70,0,+50 (測定器のスペースの都合上 x=+70 は不可) で縦方向の scan を行った(下図)。

また、表面荒さを測定するため、凸面、凹面とも中央を縦方向に 0.005mm step で 20mm scan を行った。全て「詳細測定モード」で測定し、対物レンズは 100倍のみを使用した。

結果

結果一覧
測定内容解析結果(Click で拡大)
測定1-3 (140mm, 1mm step)
:y=-70mm
:y= 0mm
:y=+70mm
測定1(左側) σ:0.878696μm
x,y:-66.2mm, +1.0mm
θxy:-15.077°,-0.036°
測定2(右側) σ:1.01195μm
x,y:+73.5mm, +1.1mm
θxy:-15.078°,-0.042°
:x=-70mm
:x= 0mm
:x=+50mm
測定3  σ:1.07829μm
x,y:+2.3mm, +0.5mm
θxy:-15.077°,-0.086°
測定4-6 (140mm, 1mm step)
:y=-70mm
:y= 0mm
:y=+70mm
測定4(左側) σ:2.33996μm
x,y:-69.9mm, -1.1mm
θxy:-15.073°,+0.034°
測定5(右側) σ:0.961324μm
x,y:+70.0mm, -2.0mm
θxy:-15.094°,-0.015°
:x=-70mm
:x= 0mm
:x=+50mm
測定6  σ:1.70815μm
x,y:+0.1mm, -2.1mm
θxy:-15.097°,-0.079°
左側(測定4)の出来が少し悪いが許容範囲か。
測定7-9 (140mm, 1mm step)
:y=-70mm
:y= 0mm
:y=+70mm
測定7(左側) σ:1.50097μm
x,y:-70.0mm, -1.2mm
θxy:-15.029°,-0.024°
測定8(右側) σ:2.17442μm
x,y:+70.1mm, -1.1mm
θxy:-15.041°,-0.103°
:x=-70mm
:x= 0mm
:x=+50mm
測定9  σ:3.51396μm
x,y:-1.0mm, -1.0mm
θxy:-15.062°,-0.067°
前回の測定5,6と同様に、左右ともかなり悪い。
傾きが連続になるものと思って見ると、中央部
が設計値よりかなり厚いように見える。
測定10 (20mm, 0.005mm step)
:詳細測定モード測定10 σ:0.112942μm
x,y:+1mm, -2mm
θxy:-15.099°,+0.004°
「詳細測定モード」をステージ送り速度「高速」で
行ったのが悪かったか、auto focus が間に合って
いないようだ。
測定11 (20mm, 0.005mm step)
:詳細測定モード測定11 σ:0.693422μm
x,y:-2mm, +2mm
θxy:-14.941°,-0.1000°
こちらも上と同じ。


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