CCD

防反射コート付裏面照射型のEEV社製2K × 2K CCDを用いている。 CCD制御とデータ取得には、MESSIA IVとMFrontを用いている。 100 kHzの読出しで読出し雑音を〜5 e^-におさえることに 成功した。 CCDデュワはスターリングサイクル冷凍機によって冷却されており、 これによりCCDの温度を〜 -100°Cまで下げることがで きた。 このとき、検出器の暗電流は〜 10^-3e^- s^-1 pixel^-1と無視できる大きさ である。 また、X線を用いて転送効率の温度依存性を調べた結果、 〜 -100°Cにおける転送効率は、パラレル方向に 99.9999 %以上、シリアル方向に99.9995 %と充分であることがわかっ ている。 実際には、ヒータを用いて、〜 -95°Cで温度制御を行う。 冷凍機の圧縮機は分光器基盤にゆるくつながっているが、振動により像 を悪化させることはないことを確かめた。 現在テスト的にエンジニアリングチップを用いているが、実際すばるで の観測はグレード1のチップを用いる。 グレード1チップの雑音は3.8 e^-である。